成品IC测试，引进美国、日本、台湾等先进的测试系统，测试能力强，测试质量稳定可靠。测试类型有：

数字电路、模拟电路、数模混合电路、存储器电路等。可完成DIP、SOP、SIP-4、SSOP、TSSOP、TSOP、SDIP

HSOP、QFP、QFN等封装形式的IC测试。

　　IC测试能力：60kk pcs/月

　　测试项目：接触测试、功耗测试、输入漏电测试、输出电平测试、全面的功能测试、全面的动态参数测试、

　　　　　　　模拟信号参数测试。

　　主要测试技术平台：

　　　　V50测试系统

　　　　V777测试系统

　　　　SCUD-256测试系统

　　　　TR-6800测试系统

　　　　3360P2测试系统

　　　　3196测试系统

　　　　TR-6010测试系统

　　分选机：
　　　　DIP300/400/600mil 自动分选机

　　　　SOP150/300mil 自动分选机

　　　　TSSOP173/SSOP209/HSOP300/SSOP236mil 自动分选机