刀片探针卡-广东新瑞芯电子有限公司

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探针卡定制-刀片探针卡

简述：

探针卡（probe card）是晶圆测试（wafer test）中被测芯片（chip）和测试机之间的桥梁。刀片探针卡使用的是刀片针，因刀片针的体积比悬臂针大，在探卡PCB上所焊接的刀片针数量会受限制，一般应用于分立器件的CP测试。

刀片探针卡主要由PCB、刀片针及功能部件（含电子元件）等组成。

刀片针如下图：

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1.接触时要注意避免机械损伤：探针卡的接触部分很容易受到机械损伤，使用时需要注意避免受到撞击或弯曲等损伤。

2.防止高温和潮湿环境：探针卡需要在干燥、温度适宜的环境下使用，避免高温和潮湿环境对其造成损坏。

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Tip DIA ：30um

Pad Pitch ：100um

Prober Depth：3.4mm

Tip length ：250um

Planarity ：±4~5um

Tip Alignment：±5um

Contact Force：2.5~3g/mil