测试业务流程

1.选择ATE测试平台

根据客户提供的待测产品的规格书或产品测试规范，确定测试方案，选择与产品相匹配的ATE测试平台；

CP的ATE测试平台 = 仪表Tester + 探针台Prober + 工艺路线；

2. 定制探针卡
客户提供Wafter PAD坐标数据，委托我司定制配套探针卡，客户也可委托第三方制作探针卡；
其中高频探针卡需要具备高速传输高频信号的能力、与待测电路阻抗匹配的能力、尽可能低的失真能力、良好的接触性能和稳定的连接能力等特点。

3. 测试程序的开发和调试
根据测试方案，将探针卡安装到所选的ATE测试平台上，进行编程和调试；
如果客户提供测试程序，可跳过程序开发；
4. 试产
将Datalog数据发给客户，验证与测试方案是否一致，确认测试符合工艺路线，确认测试时间是否达到客户的要求，依据客户对产品的实际使用效果，进一步优化和完善测试程序，从而确保测试后的产品品质的可靠性和一致性。
5. 文件化存档测试程序和方案；
6. 按客户工艺路线晶圆量产，测试数据保存。