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晶圆测试(CP)-模拟类IC测试
简述:

主要测试:

1.OP运放、比较器;

2. AC-DC、DC-DC电压转换器;

3. LDO驱动芯片;

4. 电池管理IC、LED驱动器;

5. 电压基准和监控器IC;

6.音频IC、信号调理芯片;

功能与特点 技术参数

测试业务流程

1.选择ATE测试平台

根据客户提供的待测产品的规格书或产品测试规范,确定测试方案,选择与产品相匹配的ATE测试平台;

CP的ATE测试平台 = 仪表Tester + 探针台Prober + 工艺路线;

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2. 定制探针卡
客户提供Wafter PAD坐标数据,委托我司定制配套探针卡,客户也可委托第三方制作探针卡;
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3. 测试程序的开发和调试
根据测试方案,将探针卡安装到所选的ATE测试平台上,进行编程和调试;
如果客户提供测试程序,可跳过程序开发;
4. 试产
将Datalog数据发给客户,验证与测试方案是否一致,确认测试符合工艺路线,确认测试时间是否达到客户的要求,依据客户对产品的实际使用效果,进一步优化和完善测试程序,从而确保测试后的产品品质的可靠性和一致性。
5. 文件化存档测试程序和方案;
6. 按客户工艺路线晶圆量产,测试数据保存。


JC5600仪表技术指标:

±50V/±350MA 电压电流源(VIS),施加分辨率 16Bit、测量分辨率 16Bit
±50V/±5A 功率电压电流源(PVIS),施加分辨率 16Bit、测量分辨率 16Bit
直流电压表(DVM)测量分辨率 16Bit
低电压电流源(LVIS),施加分辨率 14Bit、测量分辨率 16Bit
音频信号表(AS),频率:1HZ~150KHZ,输出电压范围: 6Vrms
音频电压表(AVM)四路(选件),测量范围:6Vrms,频率范围:0HZ~20.0KHZ
时间测量单元(TMU)
频率测量:0.1Hz~10MHz 准确度: 0.01%
时间范围:20nS~40S



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