分立器件测试-广东新瑞芯电子有限公司

测试业务流程

1.选择ATE测试平台
根据客户提供的待测产品的规格书或产品测试规范，确定测试方案，选择与产品相匹配的ATE测试平台；

CP的ATE测试平台 = 仪表Tester + 探针台Prober + 工艺路线；

2. 定制探针卡
客户提供Wafter PAD坐标数据，委托我司定制配套探针卡，客户也可委托第三方制作探针卡；

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3. 测试程序的开发和调试
根据测试方案，将探针卡安装到所选的ATE测试平台上，进行编程和调试；
如果客户提供测试程序，可跳过程序开发；
4. 试产
将Datalog数据发给客户，验证与测试方案是否一致，确认测试符合工艺路线，确认测试时间是否达到客户的要求，依据客户对产品的实际使用效果，进一步优化和完善测试程序，从而确保测试后的产品品质的可靠性和一致性。
5. 文件化存档测试程序和方案；
6. 按客户工艺路线晶圆量产，测试数据保存。

仪表技术指标：

最大测试电压 : 999V
最大测试电流 : 20.0A
通道 : 最大2通道
偏置（Forcing）
Bias数/项 : 标准3个（3位）（D/A Converter)
偏置（Bias）回路 : 标准规格
High Voltage Generator （±999V/50ma）1回路
Voltage & Current Generator 3回路
Voltage Generator （36V/9.99A）
Current Generator （36V/9.99A）
测量（Detection）
测量数/项 : 1个（4位）（A/D converter）
测量回路:标准规格
High Voltage Detector （0.000V～999.9V）1回路
Low Voltage Detector (00.00mV～36.00V) 1回路
Current Generator (0.000mA～20.0A) 1回路
Low Current Generator (000.0PA～999.9uA) 1回路
测试回路用Item Name管理(VCESAT、HFE、etc)